場發(fā)射掃描電子顯微鏡與傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡都是利用電子束掃描樣品表面，通過檢測反射或散射的電子信號來獲取樣品表面形貌和成分信息的設(shè)備。然而，它們在電子源、分辨率、操作條件等方面存在一些顯著的區(qū)別。
 

　　1、電子源：場發(fā)射掃描電子顯微鏡使用的是場發(fā)射電子槍，而傳統(tǒng)的SEM通常使用的是熱發(fā)射電子槍。場發(fā)射電子槍能夠產(chǎn)生更細(xì)的電子束，因此具有更高的分辨率。
 

　　2、分辨率：由于電子束更細(xì)，其分辨率通常比傳統(tǒng)SEM高。其分辨率可以達(dá)到納米級別，甚至亞納米級別，而傳統(tǒng)掃描電鏡的分辨率通常在微米級別。
 

　　3、操作條件：需要在高真空環(huán)境下工作，而傳統(tǒng)掃描電鏡可以在較低的真空環(huán)境下工作。這是因?yàn)樗碾娮訕寣φ婵斩鹊囊蟾撸苑乐闺娮邮艿綒怏w分子的散射。
 

　　4、價(jià)格和維護(hù)成本：由于它的技術(shù)更復(fù)雜，其價(jià)格和維護(hù)成本通常都比傳統(tǒng)掃描電鏡高。
 

　　5、應(yīng)用領(lǐng)域：由于其高分辨率，它通常用于需要觀察微小結(jié)構(gòu)的研究，如材料科學(xué)、生物學(xué)、納米科技等。而傳統(tǒng)掃描電鏡則更常用于工業(yè)質(zhì)量控制、故障分析等領(lǐng)域。
 

　　6、樣品制備：對樣品的要求更高，需要樣品具有良好的導(dǎo)電性和穩(wěn)定性，否則可能會影響圖像質(zhì)量。而傳統(tǒng)SEM對樣品的要求相對較低。
 

　　總的來說，場發(fā)射掃描電子顯微鏡和傳統(tǒng)掃描電鏡的主要區(qū)別在于電子源、分辨率、操作條件、價(jià)格和維護(hù)成本、應(yīng)用領(lǐng)域和樣品制備等方面。具有更高的分辨率，但價(jià)格也更高，操作和維護(hù)也更復(fù)雜。而傳統(tǒng)掃描電鏡雖然分辨率較低，但價(jià)格更低，操作和維護(hù)也更簡單。